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FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪
参数资料
1.方块电阻范围:10-5~2×105Ω/□
2.电阻率范围:10-6~2×106Ω-cm
3.测试电流范围:0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA
4.电流精度:±0.1%读数
5.电阻精度:≤0.3%
6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
7.测试方式: 普通单电测量
8.工作电源:输入: AC 220V±10% 50Hz 功耗:<30W
9.整机不确定性误差:≤4%(标准样片结果)
10.选购功能: 选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台
11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针
ROOKO/瑞柯,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业.
*与精致并重;*与智慧之原
FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪
描述:
采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,提供通讯接口,PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.
二.参照标准:
硅片电阻率测量的标准(ASTM F84)及国标设计制造;GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.
三.适用范围:
适用于生产企业、高等校、科研部门,是检验和分析半导体材料质量的工具;液晶显示,自动测量和系数补偿,并带有温度补偿功能,自动转换量程;采用芯片控制,恒流输出,选配:PC软件,保存和打印数据,生成报表
用于:覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品
联系人:陈小姐 | 电话:0574-27975197 | 传真:0574-87460769 | 邮箱:18100127132@163.com | 邮编:315033
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网址:http://www.ruike17.com
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